Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples

M. L. Miguez E. C Barbano; J. A Coura; Sérgio Carlos Zílio; Lino Misoguti

Applied Physics B Heildelberg : Springer v. 120, n. 4, p. 653-658, Sept. 2015

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD023798 )(Acessar)

Título:
Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples
Autor: M. L. Miguez
E. C Barbano; J. A Coura; Sérgio Carlos Zílio; Lino Misoguti
Assuntos: FOTÔNICA; VIDRO; LASER
É parte de: Applied Physics B Heildelberg : Springer v. 120, n. 4, p. 653-658, Sept. 2015
Notas: Disponível em: <http://dx.doi.org/10.1007/s00340-015-6178-x>. Acesso em: 28 ago. 2015
Editor: Heidelberg
Data de criação/publicação: 2015
Formato: p. 653-658.
Idioma: Inglês

Links

Voltar para lista de resultados

Anterior Resultado 5 Avançar Ir para próxima página