Topological line defects in hexagonal SiC monolayer
Morais, Wallace P ; Inacio, Guilherme J ; Amorim, Rodrigo G ; Paz, Wendel S ; Pansini, Fernando N. N ; de Souza, Fábio A. L
Physical chemistry chemical physics : PCCP, 2023-12, Vol.25 (48), p.3348-3355 [Periódico revisado por pares]England: Royal Society of Chemistry
Texto completo disponível