Trapezoidal SOI FinFET analog parameters' dependence on cross-section shape
Rudolf Theoderich Bühler R Giacomini; Marcelo Antonio Pavanello; João Antonio Martino 1959-
Semiconductor Science and Technology v. 24, n.11, 2009
Bristol; Woodbury 2009
Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco
Logos de Redes Sociais: 