Equivalent Oxide Thickness of Trigate SOI MOSFETs With High- \kappa Insulators
Ruiz, F.J.G. ; Tienda-Luna, I.M. ; Godoy, A. ; Donetti, L. ; Gamiz, F.
IEEE transactions on electron devices, 2009-11, Vol.56 (11), p.2711-2719
[Periódico revisado por pares]
IEEE
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