Photoreflectance measurements on 'SI' 'DELTA'-doped 'GA''AS' samples grown by molecular-beam epitaxy
A A Bernussi F Iikawa; P Motisuke; Pierre Basmaji; Máximo Siu Li; Oscar Hipólito
New York v.67, n.9 , p.4149-51, mai. 1990 Journal of Applied PhysicsNew York 1990
Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD000861 )(Acessar)
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