Excess electronic recoil events in XENON1T

Aprile, E. ; Aalbers, J. ; Agostini, F. ; Althueser, L. ; Antochi, V. C. ; Angelino, E. ; Angevaare, J. R. ; Arneodo, F. ; Barge, D. ; Baudis, L. ; Bauermeister, B. ; Brown, A. ; Brown, E. ; Bruenner, S. ; Bruno, G. ; Budnik, R. ; Cardoso, J. M. R. ; Cichon, D. ; Cimmino, B. ; Clark, M. ; Coderre, D. ; Conrad, J. ; Cussonneau, J. P. ; Decowski, M. P. ; Di Giovanni, A. ; Di Stefano, R. ; Elykov, A. ; Ferella, A. D. ; Fulgione, W. ; Gaior, R. ; Galloway, M. ; Gao, F. ; Grandi, L. ; Hasterok, C. ; Hils, C. ; Hiraide, K. ; Hoetzsch, L. ; Howlett, J. ; Iacovacci, M. ; Itow, Y. ; Kobayashi, M. ; Koltman, G. ; Kopec, A. ; Landsman, H. ; Lang, R. F. ; Lin, Q. ; Lindemann, S. ; Long, J. ; López Fune, E. ; Mahlstedt, J. ; Manenti, L. ; Marrodán Undagoitia, T. ; Masbou, J. ; Masson, D. ; Messina, M. ; Miuchi, K. ; Mizukoshi, K. ; Molinario, A. ; Morå, K. ; Moriyama, S. ; Mosbacher, Y. ; Murra, M. ; Naganoma, J. ; Ni, K. ; Pelssers, B. ; Peres, R. ; Pienaar, J. ; Plante, G. ; Qin, J. ; Qiu, H. ; Rocchetti, A. ; dos Santos, J. M. F. ; Sartorelli, G. ; Scheibelhut, M. ; Schulte, D. ; Selvi, M. ; Semeria, F. ; Shagin, P. ; Shockley, E. ; Silva, M. ; Simgen, H. ; Takeda, A. ; Therreau, C. ; Thers, D. ; Trinchero, G. ; Tunnell, C. ; Volta, G. ; Wang, H. ; Wei, Y. ; Weiss, M. ; Wenz, D. ; Wittweg, C. ; Xu, Z. ; Yamashita, M. ; Ye, J. ; Zavattini, G. ; Zhang, Y. ; Zhu, T. ; Zopounidis, J. P. ; Mougeot, X.

Physical review. D, 2020-10, Vol.102 (7), p.072004-1, Article 072004 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

Texto completo disponível