CDF run IIb silicon detector: electrical performance and deadtime-less operation

Akimoto, T. ; Aoki, M. ; Azzi, P. ; Bacchetta, N. ; Behari, S. ; Benjamin, D. ; Bisello, D. ; Bolla, G. ; Bortoletto, D. ; Busetto, G. ; Cabrera, S. ; Canepa, A. ; Cardoso, G. ; Chertok, M. ; Ciobanu, C. I. ; Derylo, G. ; Fang, I. ; Feng, E. J. ; Fernandez, J. P. ; Flaugher, B. ; Freeman, J. ; Galtieri, L. ; Galyardt, J. ; Garcia-Sciveres, M. ; Giurgiu, G. ; Haber, C. ; Hale, D. ; Hara, K. ; Harr, R. ; Hill, C. ; Hoff, J. ; Holbrook, B. ; Hong, S. C. ; Hrycyk, M. ; Hsiung, T. H. ; Incandela, J. ; Jeon, E. J. ; Joo, K. K. ; Junk, T. ; Kahkola, H. ; Karjalainen, S. ; Kim, S. ; Kobayashi, K. ; Kong, D. J. ; Krieger, B. ; Kruse, M. ; Kuznetsova, N. ; Kyre, S. ; Lander, R. ; Landry, T. ; Lauhakangas, R. ; Lee, J. ; Lu, R.-S. ; Lujan, P. ; Lukens, P. ; Mandelli, E. ; Manea, C. ; Maksimovic, P. ; Merkel, P. ; Min, S. N. ; Moccia, S. ; Nakano, I. ; Nelson, T. ; Nord, B. ; Novak, J. ; Okusawa, T. ; Orava, R. ; Orlov, Y. ; Osterberg, K. ; Pantano, D. ; Pavlicek, V. ; Pellett, D. ; Pursley, J. ; Riipinen, P. ; Schuyler, B. ; Shenai, A. ; Soha, A. ; Stuart, D. ; Tanaka, R. ; Tavi, M. ; Von der Lippe, H. ; Walder, J.-P. ; Wang, Z. ; Weber, Marc ; Wester, W. ; Yamamoto, K. ; Yang, Y. C. ; Yao, W. ; Yao, W. ; Yarema, R. ; Yun, J. C. ; Zetti, F. ; Zimmerman, T. ; Zimmermann, S. ; Zucchelli, S.

IEEE transactions on nuclear science, 2004-06, Vol.51 (3), p.987-993 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível