Spatio-Temporal Deep Learning-Based Methods for Defect Detection: An Industrial Application Study Case
da Silva, Lucas A. ; dos Santos, Eulanda M. ; Araújo, Leo ; Freire, Natalia S. ; Vasconcelos, Max ; Giusti, Rafael ; Ferreira, David ; Jesus, Anderson S. ; Pimentel, Agemilson ; Cruz, Caio F. S. ; Belem, Ruan J. S. ; Costa, André S. ; da Silva, Osmar A.
Applied sciences, 2021-11, Vol.11 (22), p.10861 [Periódico revisado por pares]Basel: MDPI AG
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