Idioma:

Outliers identification on spatial models

Ian M. Danilevicz (Ian Meneghel Danilevicz) Ricardo Sandes Ehlers; David de S Dias (David de Souza Dias); Workshop on Probabilistic and Statistical Methods - WPSM (5. 2017 São Carlos, SP)

Abstracts 5th WSPM São Paulo, SP: Associação Brasileira de Estatística - ABE 1 p., 2017

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD 2854382 )(Acessar)

Título:
Outliers identification on spatial models
Autor: Ian M. Danilevicz (Ian Meneghel Danilevicz)
Ricardo Sandes Ehlers; David de S Dias (David de Souza Dias); Workshop on Probabilistic and Statistical Methods - WPSM (5. 2017 São Carlos, SP)
Assuntos: PROBABILIDADE; INFERÊNCIA BAYESIANA; INFERÊNCIA ESTATÍSTICA; ESTATÍSTICA APLICADA
É parte de: Abstracts 5th WSPM São Paulo, SP: Associação Brasileira de Estatística - ABE 1 p., 2017
Editor: São Paulo, SP Associação Brasileira de Estatística - ABE
Data de criação/publicação: 2017
Formato: p. 1-6.
Idioma: Inglês

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