Temperature and oxide thickness influence on the generation lifetime determination in partially depleted SOI nMOSFETs

• Autor: Milene Galeti
• João Antonio Martino 1959-; Eddy Simoen; Cor Claeys; International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO (20. 2005 Florianópolis)
• Assuntos: MICROELETRÔNICA
• É parte de: Claeys, C.; Swart, J. W.; Morimoto, N. I.; Verdonck, P., eds. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005 Pennington: The Electrochemical Society, 2005. Proceedings v. 2005-08
• Editor: Pennington The Electrochemical Society
  
• Data de criação/publicação: 2005
  
• Formato: p. 538-547.
  
• Idioma: Inglês