Idioma:

Atomic and nuclear analytical methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and ion-beam spectroscopic techniques

H. R. Verma

Localização: IQSC - Inst. Química de São Carlos (543.0858 V59a )(Acessar)

Título:
Atomic and nuclear analytical methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and ion-beam spectroscopic techniques
Autor: H. R. Verma
Assuntos: Atomic spectroscopy; Nuclear spectroscopy; Spectrum analysis; Particles (Nuclear physics); Spectroscopie; Particules (Physique nucléaire); ESPECTROSCOPIA ATÔMICA
Notas: Includes bibliographical references (p. [341]-364) and index.
Descrição: X-ray fluorescence (XRF) and particle-induced X-ray emission (PIXE) -- Rutherford backscattering spectroscopy -- Elastic recoil detection -- Mössbauer spectroscopy (MS) -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Neutron activation analysis -- Nuclear reaction analysis and particle-induced gamma-ray emission -- Accelerator mass spectroscopy (AMS) -- Appendixes.
Editor: Berlin ; Springer, New York
Data de criação/publicação: c2007
Formato: xiv, 375 p. : ill. ; 24 cm..
Idioma: Inglês

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