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Condutividade elétrica de vidros de boratos, silicatos e sílico-sulfatos de íons alcalinos.
Nascimento, Marcio Luis Ferreira
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2000-07-20
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Título:
Condutividade elétrica de vidros de boratos, silicatos e sílico-sulfatos de íons alcalinos.
Autor:
Nascimento, Marcio Luis Ferreira
Orientador:
Watanabe, Shigueo
Assuntos:
Absorção Ótica
;
Vidro
;
Impedância
;
Espectroscopia
;
Condutividade Iônica
;
Vidros
;
Glass
;
Glasses
;
Impedance
;
Ionic Conductivity
;
Optical Absorption
;
Spectroscopy
Descrição:
Vidros condutores à base de boratos, silicatos e sílico-sulfatos de íons de metais alcalinos foram preparados a partir da mistura apropriada de pós de óxidos, carbonatos e sulfatos, Eles foram produzidos a partir da fusão e resfriamento rápido em um forno de carbeto de silício de ate 1400ºC. Estes materiais foram analisados pelas técnicas de condutividade em corrente contínua (CC) e por Espectroscopia de Impedância (EI) nas caracterizações elétricas, por Difração de Raios X (DRX) para análise estrutural, Absorção Ótica (AO) par verificar a transmitância e pelas técnicas de Espectroscopia de Emissão de Chama (EEC) e Retroespalhamento de Rutherford (RBS) para identificar as composições. Os difratogramas de Raios X mostraram que se tratam de sólidos amorfos. Os espectros de AO mostraram forte absorção na região do ultravioleta e completa transparência para a luz visível. As técnicas de EEC e RBS indicaram perdas pequenas de óxidos de sódio e lítio porem grandes de sulfatos. Os principais resultados mostraram: a maior condutividade entre os materiais estudados, de 2,3×10-4S/cm para o vidro 53,4Na2O·6,6Na2SO4·40,0SiO2 mol%, caracterizando-o como um condutor iônico rápido (FIC-Fast Ion Conductor); concordância nos valores de condutividade em CC e CA, e uma melhor caracterização das propriedades dielétricas, como capacitância C, freqüência de relaxação f0 e ângulo de descentralização Fi. Alem do comportamento do tipo Arrhenius em todas as amostras foi identificada também uma não-homogeneidade estrutural através de um segundo semicírculo por EI. Por fim, aplicando tensões de até 1kV foram verificados o implante de prata em dois vidros através da técnica de RBS.
DOI:
10.11606/D.43.2000.tde-09122001-161054
Editor:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física
Data de criação/publicação:
2000-07-20
Formato:
Adobe PDF
Idioma:
Português
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