Fundamentals of surface and thin film analysis
Leonard C. Feldman James W Mayer 1930-
New York North-Holland c1986
Localização: IF - Instituto de Física (530.417 F312f ) e outros locais(Acessar)
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530.417 m149m
530.416 p972s
browse_callnumber
display.do?vl(4708289UI0)=sub&gathStatTab=true&dscnt=0&callNumberBrowseField=browse_callnumber&mode=Basic&tabRealType=browseshelf&vid=USP&rfnGrp=1&rfnGrp=2&tab=usp_fisico&vl(56004861UI1)=all_items&dstmp=1720737195293&rfnGrpCounter=1&scp.scps=scope%3A%28USP_FISICO%29&fctV=Surfaces+%28Technology%29&fctV=Thin+Films&callNumber=530.417+f312f&fctN=facet_topic&fctN=facet_topic&vl(freeText0)=Technology&ct=display&fn=search&indx=4&recIdxs=0&elementId=0
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