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Idioma:

Infrared characterization for microelectronics

W. S. Lau

Singapore World Scientific River Edge, N.J. c1999

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval (621.3.049.77 L36i )(Acessar)

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Título:
Infrared characterization for microelectronics
Autor: W. S. Lau
Assuntos: Microelectronics -- Materials -- Testing; Infrared spectroscopy; Absorption spectra; MICROELETRÔNICA; ENSAIOS DOS MATERIAIS; ESPECTROSCOPIA INFRAVERMELHA
Notas: Includes bibliographical references and index
Editor: Singapore World Scientific River Edge, N.J.
Data de criação/publicação: c1999
Formato: x, 160 p. ill. 23 cm.
Idioma: Inglês

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