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Statistical process control (SPC) for double-bounded information Choosing wisely the parametric family for unit data

Diego Carvalho Nascimento Oilson Alberto Gonzatto Junior; David Elal-Olivero; Estefania Bonnail; Paulo Henrique Ferreira

Quality Engineering New York : Taylor and Francis v. 36, n. 3, p. 575-593

New York 2024

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-3162912 )(Acessar)

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