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Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials

Djerdj, Igor

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Título:
Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials
Autor: Djerdj, Igor
Assuntos: Book Industry Communication ; Chemistry ; Crystalline materials ; Functional materials ; Mathematics & science ; Microstructural analysis ; Rietveld method ; Structural characterization ; Structural materials ; X-ray and neutron diffraction
Notas: MODID-565f2b0520d:MDPI
Descrição: This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds.
Editor: MDPI
Data de criação/publicação: 2019
Formato: 88
Idioma: Inglês

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