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Parallel Planar-Processed and Ion-Induced Electrically Isolated Future Generation AlGaN/GaN HEMT for Gas Sensing and Opto-Telecommunication Applications

Ahmed, S ; Bokhari, S H ; Khan, L A ; Amin, F ; Hussain, Z

IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2013-01, Vol.51 (1), p.12008-10 [Revista revisada por pares]

Bristol: IOP Publishing

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