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Transient Radiation Effects in Silicon Diodes near and in Avalanche Breakdown

Shedd, W. ; Buchanan, B. ; Dolan, R.

IEEE (Inst. Elec. Electron. Eng.), Trans. Nucl. Sci. NS-18: No. 6, 304-9(Dec 1971), 1971-01, Vol.18 (6), p.304-309 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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