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Idioma:

Advanced Computing in Electron Microscopy

Kirkland, Earl J

New York, NY: Springer 1998

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Título:
Advanced Computing in Electron Microscopy
Autor: Kirkland, Earl J
Assuntos: Characterization and Evaluation of Materials ; Computational Mathematics and Numerical Analysis ; Computer engineering ; Computer science ; Electrical Engineering ; Electron microscopy-Computer simulation ; Electronics ; Electronics and Microelectronics, Instrumentation ; Mathematics ; Optical and Electronic Materials ; Optical materials ; Spectroscopy and Microscopy ; Surfaces (Physics)
Editor: New York, NY: Springer
Data de criação/publicação: 1998
Formato: 249
Idioma: Inglês

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