Idioma:

Electron microdiffraction

John C.H. SPENCE J.M ZUO

Localização: EEL - Engenharia de Materiais (537.533.35 S744e ex.3 ) e outros locais(Acessar)

Título:
Electron microdiffraction
Autor: John C.H. SPENCE
J.M ZUO
Assuntos: Elétrons: Difração; MICROSCOPIA ELETRÔNICA; Estrutura cristalina; CB ED; Padrões de Kikuchi; STEM; Filmes finos
Notas: Includes bibliographical references and index
Descrição: 1 A brief history of electron microdiffraction
2 The geometry of CBED patterns
3 Theory
4 The measurements of low-order structure factors and tickness
5 Applications of three-and many-beam theory
6 Large-angle methods
7 Synmetry determination
Coherent nanoprobes, STEM, Defects and amorphous materiais
9 Instrumentation and experimental technique
fisica do estado sólido
Editor: New York Plenum
Data de criação/publicação: 1992
Formato: 358 p..

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