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Análise de superfície de filmes finos de cobre

Alexsander Tressino de Carvalho Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Maria Lucia Pereira da Silva 1957-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)

SIICUSP;CICTE: resumos

São Paulo USP 2002

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Título:
Análise de superfície de filmes finos de cobre
Autor: Alexsander Tressino de Carvalho
Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Maria Lucia Pereira da Silva 1957-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)
Materias: FILMES FINOS
Es parte de: SIICUSP; CICTE: resumos
Editor: São Paulo USP
Fecha de creación: 2002
Formato: f.1595.
Idioma: Portugués

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