Language:

Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão

F. A. Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (30. 2007 São Lourenço)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2007

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Title:
Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão
Author: F. A. Ferri
Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (30. 2007 São Lourenço)
Subjects: SILÍCIO; ESPECTROSCOPIA; FILMES FINOS (AMOSTRA ESTUDO); ÓPTICA
Is Part Of: Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2007
Publisher: São Paulo Sociedade Brasileira de Física
Creation Date: 2007
Format: res. ID:469-1.
Language: Portuguese

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