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The weibull-negative-binomial model under latent failure causes with randomized activation schemes

Bao Yiqi Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada

São Carlos ICMC-USP 2011

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (RT SME n. 371 Y52wn e.1 ) e outros locais(Acessar)

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Título:
The weibull-negative-binomial model under latent failure causes with randomized activation schemes
Autor: Bao Yiqi
Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada
Assuntos: ESTATÍSTICA; ESTATÍSTICA APLICADA; INFERÊNCIA BAYESIANA
Notas: Disponível em: . Acesso em: 12 nov. 2020
Notas Locais: Relatório Técnico do ICMC-USP, 371
Editor: São Carlos ICMC-USP
Data de criação/publicação: 2011
Formato: 23 p.
Idioma: Português

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