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Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo

Localización: IFSC-Inst. Física de S. Carlo
Signatura: PROD014696
Estado: On Shelf
Código de barras: 89014696
Tipo de ejemplar: DOCUMENTO IMPRESSO
Estado de ejemplar: Referência - não circula
Número de copia: 1

F. A. Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (31. 2008 Águas de Lindóia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2008

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IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD014696 ) Disponible

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