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Metodos bayesianos para testes de sobrevivencia acelerados assumindo um modelo estresse-resposta geral

Jorge Alberto Achcar Francisco Louzada; Simposio Nacional de Probabilidade e Estatistica (10. 1992 Rio de Janeiro)

Atas dos Resumos Rio de Janeiro : Ufrj, 1992

Rio de Janeiro Ufrj 1992

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-831798 ) e outros locais(Acessar)

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