High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices
D. M. Cornet R. R LaPierre; D Comedi; Yuri A Pusep
Journal of Applied Physics Melville v. 100, n. 4, p. 043518-1-043518-6, Aug. 2006
Melville 2006
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD012615 )(Acessar)