Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaB'i IND.2' T'a IND.2'O IND.9' thin films
Valmor Roberto Mastelaro Cesar R Foschini; José A Varela
Thin Solid Films Amsterdam : Elsevier Science v. 415, n.1-2, p. 57-63, Aug. 2002Amsterdam 2002
Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD008206 )(Acessar)