Idioma:

Photoluminescence and compositional-structural properties of ion-beam sputter deposited Er-doped TiO2-xNx films their potential as a temperature sensor

D. Scoca M Morales; R Merlo; F Alvarez; Antonio Ricardo Zanatta

Journal of Applied Physics College Park : American Institute of Physics - AIP v. 117, n. 20, p. 205304-1-205304-6, May 2015

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD023597 )(Acessar)

Título:
Photoluminescence and compositional-structural properties of ion-beam sputter deposited Er-doped TiO2-xNx films their potential as a temperature sensor
Autor: D. Scoca
M Morales; R Merlo; F Alvarez; Antonio Ricardo Zanatta
Assuntos: FOTOLUMINESCÊNCIA; FILMES FINOS
É parte de: Journal of Applied Physics College Park : American Institute of Physics - AIP v. 117, n. 20, p. 205304-1-205304-6, May 2015
Notas: Disponível em: <http://dx.doi.org/10.1063/1.4921809>. Acesso em: 23 jun. 2015
Editor: College Park
Data de criação/publicação: 2015
Formato: p. 205304-1-205304-6.
Idioma: Inglês

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