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Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA

Janderson L Silva Eliane F Chinaglia; Jefferson F Oliveira; Jessica Fleury Curado; Cleber Lima Rodrigues; Encontro de Física ( 2016 Natal, RN, Brasil ); National Meeting on Condensed Matter Physics ( 2016 Natal, RN, Brasil 39 )

Posters - Resumos São Paulo : SBF, 2016

Acesso online

Título:
Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA
Autor: Janderson L Silva
Eliane F Chinaglia; Jefferson F Oliveira; Jessica Fleury Curado; Cleber Lima Rodrigues; Encontro de Física ( 2016 Natal, RN, Brasil ); National Meeting on Condensed Matter Physics ( 2016 Natal, RN, Brasil 39 )
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
É parte de: Posters - Resumos São Paulo : SBF, 2016
Notas: Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf>. Acesso em 15 mar. 2017;Evento realizado em conjunto com XXXIX RTFNB, XXXVII ENFPC, XIII EBFP e XVI EPEF
Editor: São Paulo SBF
Data de criação/publicação: 2016
Formato: R0459-2.
Idioma: Inglês

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