Idioma:

Statistical process control (SPC) for double-bounded information Choosing wisely the parametric family for unit data

Diego Carvalho Nascimento Oilson Alberto Gonzatto Junior; David Elal-Olivero; Estefania Bonnail; Paulo Henrique Ferreira

Quality Engineering New York : Taylor and Francis, 2023 In press

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-3162912 )(Acessar)

Título:
Statistical process control (SPC) for double-bounded information Choosing wisely the parametric family for unit data
Autor: Diego Carvalho Nascimento
Oilson Alberto Gonzatto Junior; David Elal-Olivero; Estefania Bonnail; Paulo Henrique Ferreira
Assuntos: CONTROLE ESTATÍSTICO DO PROCESSO; ANÁLISE DE DADOS; DESERTO DE ATACAMA; Asymmetry Data; Bimodal Unit Distribution; Iterative Analysis; Rates And Proportions Monitoring; R Shiny
É parte de: Quality Engineering New York : Taylor and Francis, 2023 In press
Notas: Disponível em: https://doi.org/10.1080/08982112.2023.2254843. Acesso em: 09 nov. 2023
Editor: New York
Data de criação/publicação: 2023
Formato: p. 1-19.
Idioma: Inglês

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