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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology 2023
Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology 2023
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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology 2023

Japanese Journal of Applied Physics, 2024-05, Vol.63 (5), p.50001 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: Japanese Journal of Applied Physics

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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology

Japanese Journal of Applied Physics, 2022-07, Vol.61 (SH), p.SH0001 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: IOP Publishing

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Silicon bulk growth for solar cells: Science and technology
Silicon bulk growth for solar cells: Science and technology
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Silicon bulk growth for solar cells: Science and technology

Kakimoto, Koichi ; Gao, Bing ; Nakano, Satoshi ; Harada, Hirofumi ; Miyamura, Yoshiji

Japanese Journal of Applied Physics, 2017-02, Vol.56 (2), p.20101-020101 [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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High-quality β-Ga2O3 single crystals grown by edge-defined film-fed growth
High-quality β-Ga2O3 single crystals grown by edge-defined film-fed growth
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High-quality β-Ga2O3 single crystals grown by edge-defined film-fed growth

Kuramata, Akito ; Koshi, Kimiyoshi ; Watanabe, Shinya ; Yamaoka, Yu ; Masui, Takekazu ; Yamakoshi, Shigenobu

Japanese Journal of Applied Physics, 2016-12, Vol.55 (12) [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology

Japanese Journal of Applied Physics, 2020-07, Vol.59 (SM), p.SM0001 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology
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Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology

Watanabe, Heiji ; Nara, Yasuo ; Kamakura, Yoshinari

Japanese Journal of Applied Physics, 2018-06, Vol.57 (6S3), p.6 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: The Japan Society of Applied Physics

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Basic study on estimation method of wall shear stress in common carotid artery using blood flow imaging
Basic study on estimation method of wall shear stress in common carotid artery using blood flow imaging
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Basic study on estimation method of wall shear stress in common carotid artery using blood flow imaging

Nagaoka, Ryo ; Ishikawa, Kazuma ; Mozumi, Michiya ; Cinthio, Magnus ; Hasegawa, Hideyuki

Japanese Journal of Applied Physics, 2020-07, Vol.59 (SK), p.SKKE16 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Material science and device physics in SiC technology for high-voltage power devices
Material science and device physics in SiC technology for high-voltage power devices
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Material science and device physics in SiC technology for high-voltage power devices

Kimoto, Tsunenobu

Japanese Journal of Applied Physics, 2015-04, Vol.54 (4), p.40103-1-040103-27 [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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Valence band ordering in β-Ga2O3 studied by polarized transmittance and reflectance spectroscopy
Valence band ordering in β-Ga2O3 studied by polarized transmittance and reflectance spectroscopy
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Valence band ordering in β-Ga2O3 studied by polarized transmittance and reflectance spectroscopy

Onuma, Takeyoshi ; Saito, Shingo ; Sasaki, Kohei ; Masui, Tatekazu ; Yamaguchi, Tomohiro ; Honda, Tohru ; Higashiwaki, Masataka

Japanese Journal of Applied Physics, 2015-11, Vol.54 (11) [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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Current status of Ga2O3 power devices
Current status of Ga2O3 power devices
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Current status of Ga2O3 power devices

Higashiwaki, Masataka ; Murakami, Hisashi ; Kumagai, Yoshinao ; Kuramata, Akito

Japanese Journal of Applied Physics, 2016-12, Vol.55 (12) [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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