skip to main content
Idioma:
Sua busca inicial resultou em poucos registros ou nenhum resultado. Os resultados abaixo foram encontrados ao expandir sua busca.
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Formação e reatividade de filmes finos de macrocíclicos de ferro sobre silício monocristalino
Formação e reatividade de filmes finos de macrocíclicos de ferro sobre silício monocristalino
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Formação e reatividade de filmes finos de macrocíclicos de ferro sobre silício monocristalino

Andresa, Juliana Salvador

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Química de São Carlos 2007-10-31

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Revisiting thin silicon for photovoltaics: a technoeconomic perspective
Revisiting thin silicon for photovoltaics: a technoeconomic perspective
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Revisiting thin silicon for photovoltaics: a technoeconomic perspective

Liu, Zhe ; Sofia, Sarah E ; Laine, Hannu S ; Woodhouse, Michael ; Wieghold, Sarah ; Peters, Ian Marius ; Buonassisi, Tonio

Energy & environmental science, 2020-01, Vol.13 (1), p.12-23 [Periódico revisado por pares]

Cambridge: Royal Society of Chemistry

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
Detection of sub-500-μm cracks in multicrystalline silicon wafer using edge-illuminated dark-field imaging to enable thin solar cell manufacturing
Detection of sub-500-μm cracks in multicrystalline silicon wafer using edge-illuminated dark-field imaging to enable thin solar cell manufacturing
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Detection of sub-500-μm cracks in multicrystalline silicon wafer using edge-illuminated dark-field imaging to enable thin solar cell manufacturing

Wieghold, Sarah ; Liu, Zhe ; Raymond, Samuel J. ; Meyer, Luke T. ; Williams, John R. ; Buonassisi, Tonio ; Sachs, Emanuel M.

Solar energy materials and solar cells, 2019-07, Vol.196 (C), p.70-77 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Polycrystalline silicon wafer defect segmentation based on deep convolutional neural networks
Polycrystalline silicon wafer defect segmentation based on deep convolutional neural networks
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Polycrystalline silicon wafer defect segmentation based on deep convolutional neural networks

Han, Hui ; Gao, Chenqiang ; Zhao, Yue ; Liao, Shisha ; Tang, Lin ; Li, Xindou

Pattern recognition letters, 2020-02, Vol.130, p.234-241 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Evaluation of fixed abrasive diamond wire sawing induced subsurface damage of solar silicon wafers
Evaluation of fixed abrasive diamond wire sawing induced subsurface damage of solar silicon wafers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Evaluation of fixed abrasive diamond wire sawing induced subsurface damage of solar silicon wafers

Xiao, Huapan ; Wang, Hairong ; Yu, Na ; Liang, Rongguang ; Tong, Zhe ; Chen, Zhi ; Wang, Jiuhong

Journal of materials processing technology, 2019-11, Vol.273, p.116267, Article 116267 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
Two-dimensional detection of subsurface damage in silicon wafers with polarized laser scattering
Two-dimensional detection of subsurface damage in silicon wafers with polarized laser scattering
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Two-dimensional detection of subsurface damage in silicon wafers with polarized laser scattering

Yin, Jingfei ; Bai, Qian ; Haitjema, Han ; Zhang, Bi

Journal of materials processing technology, 2020-10, Vol.284, p.116746, Article 116746 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
The influence of surface treatment on the performance of photoconductive detectors based on silicon wafer (April 2024)
The influence of surface treatment on the performance of photoconductive detectors based on silicon wafer (April 2024)
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The influence of surface treatment on the performance of photoconductive detectors based on silicon wafer (April 2024)

Wu, Leyao ; Zhang, Miao ; Shi, Xinnan ; Hu, Peng ; Yu, Haiping ; Teng, Feng

IEEE sensors journal, 2024, Vol.24 (13), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
Where I work
Where I work
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Where I work

Fonseca, Luis

Nature (London), 2023-03, Vol.615 (7953), p.758-758 [Periódico revisado por pares]

London: Nature Publishing Group

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Undeformed chip width non-uniformity modeling and surface roughness prediction in wafer self-rotational grinding process
Undeformed chip width non-uniformity modeling and surface roughness prediction in wafer self-rotational grinding process
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Undeformed chip width non-uniformity modeling and surface roughness prediction in wafer self-rotational grinding process

Tao, Hongfei ; Liu, Yuanhang ; Zhao, Dewen ; Lu, Xinchun

Tribology international, 2022-07, Vol.171, p.107547, Article 107547 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Effect of Silicon Wafer Surface Stains on Copper-Assisted Chemical Etching
Effect of Silicon Wafer Surface Stains on Copper-Assisted Chemical Etching
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effect of Silicon Wafer Surface Stains on Copper-Assisted Chemical Etching

Ma, Liang ; Chen, Xiuhua ; Tang, Chenggui ; Li, Shaoyuan ; Xi, Fengshuo ; Lan, Huayan ; Ma, Wenhui ; Chang, Yuanchih

Metals (Basel ), 2023-04, Vol.13 (4), p.742 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Newsletter Articles  (17.074)
  2. Artigos  (16.319)
  3. Anais de Congresso  (2.795)
  4. magazinearticle  (1.933)
  5. Reports  (445)
  6. Book Chapters  (315)
  7. Artigos de Jornal  (283)
  8. Dissertações  (53)
  9. Patentes  (41)
  10. Livros  (15)
  11. Resenhas  (12)
  12. Recursos Textuais  (5)
  13. Conjunto de Dados  (5)
  14. Verbetes  (2)
  15. Videos  (2)
  16. Produções Acadêmicas  (1)
  17. Outros  (1)
  18. Standards  (1)
  19. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1973  (28)
  2. 1973Até1984  (141)
  3. 1985Até1996  (1.028)
  4. 1997Até2009  (6.686)
  5. Após 2009  (31.372)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (38.998)
  2. Japonês  (2.312)
  3. Chinês  (152)
  4. Alemão  (28)
  5. Russo  (23)
  6. Ucraniano  (16)
  7. Português  (11)
  8. Francês  (10)
  9. Norueguês  (4)
  10. Polonês  (3)
  11. Coreano  (3)
  12. Galês  (1)
  13. Dinamarquês  (1)
  14. Romeno  (1)
  15. Malaio  (1)
  16. Espanhol  (1)
  17. Mais opções open sub menu

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Andresa, J
  2. Rodrigues Filho, U

Neste Assunto:

  1. Silicon Wafers
  2. Science & Technology
  3. Technology
  4. Inventors
  5. Physical Sciences

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.