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Subnanowatt Carbon Nanotube Complementary Logic Enabled by Threshold Voltage Control
Subnanowatt Carbon Nanotube Complementary Logic Enabled by Threshold Voltage Control
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Subnanowatt Carbon Nanotube Complementary Logic Enabled by Threshold Voltage Control

Geier, Michael L ; Prabhumirashi, Pradyumna L ; McMorrow, Julian J ; Xu, Weichao ; Seo, Jung-Woo T ; Everaerts, Ken ; Kim, Chris H ; Marks, Tobin J ; Hersam, Mark C

Nano letters, 2013-10, Vol.13 (10), p.4810-4814 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

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2
A 32 nm 0.58-fJ/Bit/Search 1-GHz Ternary Content Addressable Memory Compiler Using Silicon-Aware Early-Predict Late-Correct Sensing With Embedded Deep-Trench Capacitor Noise Mitigation
A 32 nm 0.58-fJ/Bit/Search 1-GHz Ternary Content Addressable Memory Compiler Using Silicon-Aware Early-Predict Late-Correct Sensing With Embedded Deep-Trench Capacitor Noise Mitigation
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A 32 nm 0.58-fJ/Bit/Search 1-GHz Ternary Content Addressable Memory Compiler Using Silicon-Aware Early-Predict Late-Correct Sensing With Embedded Deep-Trench Capacitor Noise Mitigation

Arsovski, I. ; Hebig, T. ; Dobson, D. ; Wistort, R.

IEEE journal of solid-state circuits, 2013-04, Vol.48 (4), p.932-939 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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All-optical multiple logic gates with XOR, NOR, OR, and NAND functions using parallel SOA-MZI structures: theory and experiment
All-optical multiple logic gates with XOR, NOR, OR, and NAND functions using parallel SOA-MZI structures: theory and experiment
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All-optical multiple logic gates with XOR, NOR, OR, and NAND functions using parallel SOA-MZI structures: theory and experiment

KIM, Joo-Youp ; KANG, Jeung-Mo ; KIM, Tae-Young ; HAN, Sang-Kook

Journal of lightwave technology, 2006-09, Vol.24 (9), p.3392-3399 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Future challenges of flash memory technologies
Future challenges of flash memory technologies
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Future challenges of flash memory technologies

Lu, Chih-Yuan ; Hsieh, Kuang-Yeu ; Liu, Rich

Microelectronic engineering, 2009-03, Vol.86 (3), p.283-286 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Negative-order ridge substrate integrated waveguide coupled-resonator filter
Negative-order ridge substrate integrated waveguide coupled-resonator filter
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Negative-order ridge substrate integrated waveguide coupled-resonator filter

Yang, Qingshan ; Zhang, Yunhua

Electronics letters, 2014-02, Vol.50 (4), p.290-291 [Periódico revisado por pares]

Stevenage: The Institution of Engineering and Technology

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On the accuracy of current TCAD hot carrier injection models in nanoscale devices
On the accuracy of current TCAD hot carrier injection models in nanoscale devices
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On the accuracy of current TCAD hot carrier injection models in nanoscale devices

Zaka, Alban ; Rafhay, Quentin ; Iellina, Matteo ; Palestri, Pierpaolo ; Clerc, Raphaël ; Rideau, Denis ; Garetto, Davide ; Dornel, Erwan ; Singer, Julien ; Pananakakis, Georges ; Tavernier, Clément ; Jaouen, Hervé

Solid-state electronics, 2010-12, Vol.54 (12), p.1669-1674 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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7
Characterization of water-soluble ion species in urban ambient particles
Characterization of water-soluble ion species in urban ambient particles
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Characterization of water-soluble ion species in urban ambient particles

Lin, Jim Juimin

Environment international, 2002-04, Vol.28 (1), p.55-61 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier Ltd

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Design of new pigment dispersants by controlled radical polymerization
Design of new pigment dispersants by controlled radical polymerization
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Design of new pigment dispersants by controlled radical polymerization

Auschra, Clemens ; Eckstein, Ernst ; Mühlebach, Andreas ; Zink, Marie-Odile ; Rime, François

Progress in organic coatings, 2002-10, Vol.45 (2), p.83-93 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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A novel self-aligned highly reliable sidewall split-gate flash memory
A novel self-aligned highly reliable sidewall split-gate flash memory
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A novel self-aligned highly reliable sidewall split-gate flash memory

Caleb Yu-Sheng Cho ; Ming-Jer Chen ; Chiou-Feng Chen ; Tuntasood, P. ; Fan, D.-T. ; Tseng-Yi Liu

IEEE transactions on electron devices, 2006-03, Vol.53 (3), p.465-473 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Integration of CVD silicon nanocrystals in a 32 Mb NOR flash memory
Integration of CVD silicon nanocrystals in a 32 Mb NOR flash memory
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Integration of CVD silicon nanocrystals in a 32 Mb NOR flash memory

JACOB, S ; DE SALVO, B ; DUFOURCQ, J ; JALAGUIER, E ; PEDRON, T ; BOULANGER, F ; DELEONIBUS, S ; PERNIOLA, L ; FESTES, G ; BODNAR, S ; COPPARD, R ; THIERY, J. F ; PATE-CAZAL, T ; BONGIORNO, C ; LOMBARDO, S

Solid-state electronics, 2008-09, Vol.52 (9), p.1452-1459 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Science

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