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1	$Atomic Structure of 6H-SiC (0001) and (000\documentclass[12pt]{minimal} \usepackage{amsmath} \usepackage{wasysym} \usepackage{amsfonts} \usepackage{amssymb} \usepackage{amsbsy} \usepackage{mathrsfs} \usepackage{upgreek} \setlength{\oddsidemargin}{-69pt} \begin{document}$$\bar{1}$$\end{document})$ $Atomic Structure of 6H-SiC (0001) and (000\documentclass[12pt]{minimal} \usepackage{amsmath} \usepackage{wasysym} \usepackage{amsfonts} \usepackage{amssymb} \usepackage{amsbsy} \usepackage{mathrsfs} \usepackage{upgreek} \setlength{\oddsidemargin}{-69pt} \begin{document}$$\bar{1}$$\end{document})$ Material Type: Capítulo de Livro		Atomic Structure of 6H-SiC (0001) and (000\documentclass[12pt]{minimal} \usepackage{amsmath} \usepackage{wasysym} \usepackage{amsfonts} \usepackage{amssymb} \usepackage{amsbsy} \usepackage{mathrsfs} \usepackage{upgreek} \setlength{\oddsidemargin}{-69pt} \begin{document}$$\bar{1}$$\end{document}) Li, L. ; Sakurai, T. Advances in Scanning Probe Microscopy, p.65-90 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Capítulo de Livro		Adsorption of Fullerenes on Semiconductor and Metal Surfaces Investigated by Field-Ion Scanning Tunneling Microscopy Hashizume, T. ; Sakurai, T. Advances in Scanning Probe Microscopy, p.283-338 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Capítulo de Livro		Scanning Tunneling Microscopy of III–V Compound Semiconductor (001) Surfaces Xue, Qi-Kun ; Hashizume, T. ; Sakurai, T. Advances in Scanning Probe Microscopy, p.193-282 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Capítulo de Livro		Oxidation Reaction of Chromium Oxide (Cr2O3) in the Presence of Mm’O3 (M : Ca, Sr, Ba ; M’ : Ti, Zr) Nishino, T. ; Sakurai, T. ; Nishiyama, S. Reactivity of Solids, p.149-153 Boston, MA: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Capítulo de Livro		Amino Acid Sequencing of Peptide Mixture: Structural Analysis of Human Hemoglobin Variants (Digit Printing Method) Matsuo, T. ; Sakurai, T. ; Katakuse, I. ; Matsuda, H. ; Wada, Y. ; Hayashi, A. Ion Formation from Organic Solids (IFOS III), p.113-117 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Capítulo de Livro		Measurement of the Coronal Electron Temperature at the Total Solar Eclipse on 1994 November 3 Ichimoto, K. ; Kumagai, K. ; Sano, I. ; Kobiki, T. ; Sakurai, T. ; Munoz, A. Theoretical and Observational Problems Related to Solar Eclipses, p.31-34 Dordrecht: Springer Netherlands Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Capítulo de Livro		Extraction and Characterization of Large All-Carbon Fullerenes Shinohara, H. ; Sato, H. ; Saito, Y. ; Izuoka, A. ; Sugawara, T. ; Ito, H. ; Sakurai, T. ; Matsuo, T. Physics and Chemistry of Finite Systems: From Clusters to Crystals, p.1379-1384 Dordrecht: Springer Netherlands Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Capítulo de Livro		Mesoscopic Work Function Measurement by Scanning Tunneling Microscopy Hasegawa, Y. ; Jia, J. F. ; Sakurai, T. ; Li, Z. Q. ; Ohno, K. ; Kawazoe, Y. Advances in Scanning Probe Microscopy, p.167-191 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Capítulo de Livro		Analysis of CsI and Peptide Mixture by Molecular SIMS Katakuse, I. ; Ichihara, I. ; Nakabushi, H. ; Matsuo, T. ; Sakurai, T. ; Matsuda, H. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV, p.409-411 Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Capítulo de Livro		A Fast Scalar Multiplication Method with Randomized Projective Coordinates on a Montgomery-Form Elliptic Curve Secure against Side Channel Attacks Okeya, Katsuyuki ; Miyazaki, Kunihiko ; Sakurai, Kouichi Information Security and Cryptology - ICISC 2001, 2002, Vol.2288, p.428-439 [Periódico revisado por pares] Germany: Springer Berlin / Heidelberg Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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