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The critical role of NIR spectroscopy and statistical process control (SPC) strategy towards captopril tablets (25 mg) manufacturing process understanding a case study

Cátia Panizzon Dal Curtivo Nathália Bitencourt Funghi; Guilherme Diniz Tavares; Sávio Fujita Barbosa; Raimar Löbenberg; Nadia Araci Bou-Chacra

Pharmaceutical Development and Technology London v. 20, n. 3, p. 345-351, 2015

London 2015

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2
Deterministic and electrically tunable bright single-photon source
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Deterministic and electrically tunable bright single-photon source

Nowak, A K ; Portalupi, S L ; Giesz, V ; Gazzano, O ; Dal Savio, C ; Braun, P-F ; Karrai, K ; Arnold, C ; Lanco, L ; Sagnes, I ; Lemaître, A ; Senellart, P

Nature communications, 2014-02, Vol.5 (1), p.3240, Article 3240 [Periódico revisado por pares]

England: Nature Publishing Group

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3
Cooling power analysis of a small scale 4 K pulse tube cryocooler driven by an oil-free low input power Helium compressor
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Cooling power analysis of a small scale 4 K pulse tube cryocooler driven by an oil-free low input power Helium compressor

Schmidt, J-A ; Schmidt, B ; Falter, J ; Höhne, J ; Dal Savio, C ; Schaile, S ; Schirmeisen, A

IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2024-05, Vol.1301 (1), p.12141 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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4
3D metrology with a compact scanning probe microscope based on self-sensing cantilever probes
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3D metrology with a compact scanning probe microscope based on self-sensing cantilever probes

Dal Savio, C ; Dejima, S ; Danzebrink, H-U ; Gotszalk, T

Measurement science & technology, 2007-02, Vol.18 (2), p.328-333 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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5
Optical study of single InAs on In0.12Ga0.88As self-assembled quantum dots: biexciton binding energy dependence on the dots size
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Optical study of single InAs on In0.12Ga0.88As self-assembled quantum dots: biexciton binding energy dependence on the dots size

Dal Savio, C. ; Pierz, K. ; Ade, G. ; Danzebrink, H.-U. ; Göbel, E.O. ; Hangleiter, A.

Applied physics. B, Lasers and optics, 2006-07, Vol.84 (1-2), p.317-322 [Periódico revisado por pares]

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6
Optical microscope with SNOM option for micro- and nanoanalytical investigations at low temperatures
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Artigo
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Optical microscope with SNOM option for micro- and nanoanalytical investigations at low temperatures

Danzebrink, H.-U. ; Kazantsev, D.V. ; Dal Savio, C. ; Pierz, K. ; G ttler, B.

Applied physics. A, Materials science & processing, 2003-04, Vol.76 (6), p.889-892 [Periódico revisado por pares]

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7
Nanoscale magnetic field mapping with a single spin scanning probe magnetometer
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Artigo
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Nanoscale magnetic field mapping with a single spin scanning probe magnetometer

Rondin, L. ; Tetienne, J.-P. ; Spinicelli, P. ; Dal Savio, C. ; Karrai, K. ; Dantelle, G. ; Thiaville, A. ; Rohart, S. ; Roch, J.-F. ; Jacques, V.

Applied physics letters, 2012-04, Vol.100 (15), p.153118-153118-4 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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8
Low‐temperature scanning system for near‐ and far‐field optical investigations
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Artigo
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Low‐temperature scanning system for near‐ and far‐field optical investigations

Kazantsev, D. V. ; Savio, C. Dal ; Pierz, K. ; Güttler, B. ; Danzebrink, H.‐U.

Journal of microscopy (Oxford), 2003-03, Vol.209 (3), p.199-204 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: Blackwell Science Ltd

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9
A compact sensor head for simultaneous scanning force and near-field optical microscopy
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Artigo
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A compact sensor head for simultaneous scanning force and near-field optical microscopy

Dal Savio, C. ; Wolff, H. ; Dziomba, T. ; Fuß, H.-A. ; Danzebrink, H.-U.

Precision engineering, 2002-04, Vol.26 (2), p.199-203 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

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10
Cantilever temperature characterization in low temperature vacuum atomic force microscope
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Cantilever temperature characterization in low temperature vacuum atomic force microscope

Kazantsev, D. V. ; Dal Savio, C. ; Danzebrink, H. U.

Review of scientific instruments, 2006-04, Vol.77 (4), p.043704-043704-4 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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