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1
High Performance AlGaInP-Based Micro-LED Displays With Novel Pixel Structures
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High Performance AlGaInP-Based Micro-LED Displays With Novel Pixel Structures

Chang, Kai-Ping ; Lien, Po-Chun ; Yen, Chao-Chun ; Chen, Po-Wei ; Horng, Ray-Hua ; Wuu, Dong-Sing

IEEE photonics technology letters, 2021-12, Vol.33 (24), p.1375-1378

New York: IEEE

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2
High-uniformity 1 × 64 linear arrays of silicon carbide avalanche photodiode
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High-uniformity 1 × 64 linear arrays of silicon carbide avalanche photodiode

Zhou, Xingye ; Tan, Xin ; Lv, Yuanjie ; Li, Jia ; Liang, Shixiong ; Feng, Zhihong ; Cai, Shujun

Electronics letters, 2020-08, Vol.56 (17), p.895-897 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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3
Model‐based process capability indices: The dry‐etching semiconductor case study
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Model‐based process capability indices: The dry‐etching semiconductor case study

Borgoni, Riccardo ; Zappa, Diego

Quality and reliability engineering international, 2020-11, Vol.36 (7), p.2309-2321 [Periódico revisado por pares]

Bognor Regis: Wiley Subscription Services, Inc

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4
Analysis and improvement of the color anomaly in a‐Si TFT channel with new 4‐mask process
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Analysis and improvement of the color anomaly in a‐Si TFT channel with new 4‐mask process

Cai, Guangshuo ; Sun, Sheng ; Zhang, Shengdong

SID International Symposium Digest of technical papers, 2020-07, Vol.51 (S1), p.51-54 [Periódico revisado por pares]

Campbell: Wiley Subscription Services, Inc

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5
Growth and Selective Etch of Phosphorus-Doped Silicon/Silicon–Germanium Multilayers Structures for Vertical Transistors Application
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Growth and Selective Etch of Phosphorus-Doped Silicon/Silicon–Germanium Multilayers Structures for Vertical Transistors Application

Li, Chen ; Lin, Hongxiao ; Li, Junjie ; Yin, Xiaogen ; Zhang, Yongkui ; Kong, Zhenzhen ; Wang, Guilei ; Zhu, Huilong ; Radamson, Henry H.

Nanoscale research letters, 2020-12, Vol.15 (1), p.225-225, Article 225 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
A wide measurement pressure range CMOS-MEMS based integrated thermopile vacuum gauge with an XeF2 dry-etching process
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A wide measurement pressure range CMOS-MEMS based integrated thermopile vacuum gauge with an XeF2 dry-etching process

Sun, Xiao ; Xu, Dehui ; Xiong, Bin ; Wu, Guoqiang ; Wang, Yuelin

Sensors and actuators. A. Physical., 2013-10, Vol.201, p.428-433 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
Fabrication and characterization of injection molded multi level nano and microfluidic systems
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Fabrication and characterization of injection molded multi level nano and microfluidic systems

Matteucci, Marco ; Christiansen, Thomas Lehrmann ; Tanzi, Simone ; Østergaard, Peter Friis ; Larsen, Simon Tylsgaard ; Taboryski, Rafael

Microelectronic engineering, 2013-11, Vol.111, p.294-298 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Investigation of Key Technologies for Poly-Si/TaN/HfLaON/IL Gate-Stacks in Advanced Device Applications
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Investigation of Key Technologies for Poly-Si/TaN/HfLaON/IL Gate-Stacks in Advanced Device Applications

Xu, Qiuxia ; Xu, Gaobo ; Li, Yongliang ; Zhou, Huajie ; Li, Junfeng ; Niu, Jiebin ; Ding, Mingzheng ; Chen, Dapeng ; Ye, Tianchun

IEEE transactions on electron devices, 2014-04, Vol.61 (4), p.991-997 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Greatly enhanced performance of InGaN/GaN nanorod light emitting diodes
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Greatly enhanced performance of InGaN/GaN nanorod light emitting diodes

Bai, J. ; Wang, Q. ; Wang, T.

Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2012-03, Vol.209 (3), p.477-480 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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10
Direction control of colloidal quantum dot emission using dielectric metasurfaces
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Direction control of colloidal quantum dot emission using dielectric metasurfaces

Park, Yeonsang ; Kim, Hyochul ; Lee, Jeong-Yub ; Ko, Woong ; Bae, Kideock ; Cho, Kyung-Sang

Nanophotonics (Berlin, Germany), 2020-05, Vol.9 (5), p.1023-1030 [Periódico revisado por pares]

Berlin: De Gruyter

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