skip to main content

Idioma:

Resultados de 1 a 10 de 11 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2

next page

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (10)

Refinado por: assunto: Science & Technology - Other Topics

remover

Microelectronic Fabrication

remover

Result Number	Material Type	Add to My Shelf Action	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo		Nanoscale Three-Dimensional Patterning of Molecular Resists by Scanning Probes Pires, David ; Hedrick, James L ; De Silva, Anuja ; Frommer, Jane ; Gotsmann, Bernd ; Wolf, Heiko ; Despont, Michel ; Duerig, Urs ; Knoll, Armin W Science (American Association for the Advancement of Science), 2010-05, Vol.328 (5979), p.732-735 [Periódico revisado por pares] Washington, DC: American Association for the Advancement of Science Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Cu pumping in TSVs: Effect of pre-CMP thermal budget De Wolf, I. ; Croes, K. ; Varela Pedreira, O. ; Labie, R. ; Redolfi, A. ; Van De Peer, M. ; Vanstreels, K. ; Okoro, C. ; Vandevelde, B. ; Beyne, E. Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1856-1859 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Chip-Package Interaction in 3D stacked IC packages using Finite Element Modelling Vandevelde, Bart ; Ivankovic, A. ; Debecker, B. ; Lofrano, M. ; Vanstreels, K. ; Guo, W. ; Cherman, V. ; Gonzalez, M. ; Van der Plas, G. ; De Wolf, I. ; Beyne, E. ; Tokei, Z. Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1200-1205 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		A novel method to measure the internal pressure of MEMS thin-film packages Wang, B. ; De Coster, J. ; Wevers, M. ; De Wolf, I. Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1663-1666 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Sn whisker evaluations in 3D microbumped structures Vakanas, G.P. ; Vandecasteele, B. ; Schaubroek, D. ; De Messemaeker, J. ; Willems, G. ; Ashworth, M.A. ; Wilcox, G.D. ; De Wolf, I. Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1982-1987 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		11-Megapixel CMOS-Integrated SiGe Micromirror Arrays for High-End Applications Witvrouw, A. ; Haspeslagh, L. ; Pedreira, O.V. ; De Coster, J. ; De Wolf, I. ; Tilmans, H.A.C. ; Bearda, T. ; Schlatmann, B. ; van Bommel, M. ; de Nooijer, M.-C. ; Magnee, P.H.C. ; Lous, E.J. ; Hagting, M. ; Lauria, J. ; Vanneer, R. ; van Drieenhuizen, B. Journal of microelectromechanical systems, 2010-02, Vol.19 (1), p.202-214 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Outgassing study of thin films used for poly-SiGe based vacuum packaging of MEMS Wang, B. ; Tanaka, S. ; Guo, B. ; Vereecke, G. ; Severi, S. ; Witvrouw, A. ; Wevers, M. ; De Wolf, I. Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1878-1881 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Simulation of TaNx deposition by Reactive PVD WOLF, H ; STREITER, R ; FRIEDEMANN, M ; BELSKY, P ; BAKAEVA, O ; LETZ, T ; GESSNER, T Microelectronic engineering, 2010-10, Vol.87 (10), p.1907-1913 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Characterization and failure analysis of MEMS: High resolution optical investigation of small out-of-plane movements and fast vibrations VAN SPENGEN, W. Merlijn ; PUERS, R ; MERTENS, R ; DE WOLF, Ingrid Microsystem technologies : sensors, actuators, systems integration, 2004, Vol.10 (2), p.89-96 [Periódico revisado por pares] Berlin: Springer Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Ata de Congresso		100 nm half-pitch double exposure KrF lithography using binary masks Geisler, S ; Bauer, J ; Haak, U ; Stolarek, D ; Schulz, K ; Wolf, H ; Meier, W ; Trojahn, M ; Matthus, E Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2008, Vol.6924, p.69241Z-69241Z-8 Bellingham, Wash: SPIE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

Resultados de 1 a 10 de 11 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2

next page

Personalize Seus Resultados

Editar

RSS

Enviar página para o Meu Espaço

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

Expandir meus resultados

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (10)

Neste Assunto:

Realização: Logos de Redes Sociais:

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.

Buscando por
emscope:(USP_VIDEOS),scope:("PRIMO"),scope:(USP_FISICO),scope:(USP_EREVISTAS),scope:(USP),scope:(USP_EBOOKS),scope:(USP_PRODUCAO),primo_central_multiple_fe
Mostrar o que foi encontrado até o momento