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Contribution A L'Etude De La Communaute D'Heritiers En Droit Compare
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Contribution A L'Etude De La Communaute D'Heritiers En Droit Compare

Gustave Siesse

Paris Generale De Droit & De Jurisprudence 1923

Localização: FD - Fac. Direito    (347.664.3:340.5 S574c DCV )(Acessar)

2
Communaute d'heritiers en droit campare
Communaute d'heritiers en droit campare
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Communaute d'heritiers en droit campare

Gustave Siesse

Paris F Pichon et Durand-Auzias 1922

Localização: FD - Fac. Direito    (S3-35-23 DBC )(Acessar)

3
A day in the life career options in library and information science
A day in the life career options in library and information science
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

A day in the life career options in library and information science

Priscilla K Shontz 1965-; Richard A Murray 1973- (Richard Allen)

Westport, Conn Libraries Unlimited 2007

Localização: FFCLRP - Fac. Fil. Ciên. Let. de R. Preto    (02:002 D273 25617 )(Acessar)

4
Determination of the electron beam irradiated area by using a charging effect in oxide surfaces
Determination of the electron beam irradiated area by using a charging effect in oxide surfaces
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Determination of the electron beam irradiated area by using a charging effect in oxide surfaces

Zarbout, K. ; Moya-Siesse, D. ; Moya, G. ; Kallel, A.

Journal of non-crystalline solids, 2005-07, Vol.351 (21), p.1791-1795 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Charge trapping characterization in the thin oxide layer/non-conductive substrate system
Charge trapping characterization in the thin oxide layer/non-conductive substrate system
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Charge trapping characterization in the thin oxide layer/non-conductive substrate system

Liebault, J. ; Moya-Siesse, D. ; Bernardini, J. ; Moya, G.

Surface and interface analysis, 2002-08, Vol.34 (1), p.668-671 [Periódico revisado por pares]

Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd

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6
New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation
New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation

Liébault, J. ; Zarbout, K. ; Moya-Siesse, D. ; Bernardini, J. ; Moya, G.

Applied surface science, 2003-05, Vol.212-213, p.809-814 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation
New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

New technique to characterise thin oxide films under electronic irradiation

LIEBAULT, J ; ZARBOUT, K ; MOYA-SIESSE, D ; BERNARDINI, J ; MOYA, G

Applied surface science, 2003, Vol.212-13, p.809-814 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier Science

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8
Effect of strain on stored energy and recrystallization of straight-rolled silver
Effect of strain on stored energy and recrystallization of straight-rolled silver
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effect of strain on stored energy and recrystallization of straight-rolled silver

Zahia, A. ; Salhi, F. ; Aride, J. ; Moya-Siesse, D. ; Moya, G.

Journal of alloys and compounds, 1992-10, Vol.188 (1-2), p.264-267 [Periódico revisado por pares]

LAUSANNE 1: Elsevier B.V

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9
Effect of Strain on Stored Energy and Recrystallization of Straight-Rolled Silver
Effect of Strain on Stored Energy and Recrystallization of Straight-Rolled Silver
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effect of Strain on Stored Energy and Recrystallization of Straight-Rolled Silver

Zahia, A ; Salhi, F ; Aride, J ; Moya-Siesse, D ; Moya, G

Journal of alloys and compounds, 1991-10, Vol.188, p.264-267 [Periódico revisado por pares]

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10
Specific heat of solid dielectrics charged at room temperature
Specific heat of solid dielectrics charged at room temperature
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Specific heat of solid dielectrics charged at room temperature

Moya, G. ; Moya-Siesse, D. ; Blaise, G.

10th International Symposium on Electrets (ISE 10). Proceedings (Cat. No.99 CH36256), 1999, p.147-149

New York NY: IEEE

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