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In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs
In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs
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In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs

Swift, G.M. ; Guertin, S.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2386-2391 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells
Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells
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Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells

Edmonds, L.D. ; Guertin, S.M. ; Scheick, L.Z. ; Nguyen, D. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-12, Vol.48 (6), p.1925-1930 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor
Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor
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Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor

Swift, G.M. ; Fannanesh, F.F. ; Guertin, S.M. ; Irom, F. ; Millward, D.G.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-12, Vol.48 (6), p.1822-1827 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Analysis of radiation effects on individual DRAM cells
Analysis of radiation effects on individual DRAM cells
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Analysis of radiation effects on individual DRAM cells

Scheick, L.Z. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2534-2538 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis
Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis
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Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis

Guertin, S.M. ; Edmonds, L.D. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2380-2385 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories
Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories
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Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories

Guertin, S.M. ; Nguyen, D.N. ; Patterson, J.D.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3518-3524 [Periódico revisado por pares]

Jet Propulsion Laboratory: IEEE

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7
Radiation effects on advanced flash memories
Radiation effects on advanced flash memories
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Radiation effects on advanced flash memories

Nguyen, D.N. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M. ; Johnston, A.H.

IEEE transactions on nuclear science, 1999-12, Vol.46 (6), p.1744-1750 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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8
Measurement of jet modification at RHIC
Measurement of jet modification at RHIC
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Measurement of jet modification at RHIC

Wang, Fuqiang ; Collaboration, the STAR

Journal of physics. G, Nuclear and particle physics, 2004-08, Vol.30 (8), p.S1299-1303 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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9
Radiation Tests on 2Gb NAND Flash Memories
Radiation Tests on 2Gb NAND Flash Memories
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Radiation Tests on 2Gb NAND Flash Memories

Nguyen, D.N. ; Guertin, S.M. ; Patterson, J.D.

2006 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2006, p.121-125

IEEE

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10
Rapidity and species dependence of particle production at large transverse momentum for $d$+Au collisions at $\sqrt{s_{NN}}$ = 200 GeV
Rapidity and species dependence of particle production at large transverse momentum for $d$+Au collisions at $\sqrt{s_{NN}}$ = 200 GeV
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Rapidity and species dependence of particle production at large transverse momentum for $d$+Au collisions at $\sqrt{s_{NN}}$ = 200 GeV

Abelev, B.I. ; Adams, J. ; Aggarwal, M.M. ; Ahammed, Z. ; Amonett, J. ; Anderson, B.D. ; Anderson, M. Eric ; Arkhipkin, D. ; Averichev, G.S. ; Bai, Y. ; Balewski, J. ; Barannikova, O. ; Barnby, L.S. ; Baudot, J. ; Bekele, S. ; Belaga, V.V. ; Bellingeri-Laurikainen, A. ; Bellwied, R. ; Benedosso, F. ; Bhardwaj, S. ; Bhasin, A. ; Bhati, A.K. ; Bichsel, H. ; Bielcik, J. ; Bielcikova, J. ; Bland, L.C. ; Blyth, S.-L. ; Bonner, B.E. ; Botje, M. ; Bouchet, J. ; Brandin, A.V. ; Bravar, A. ; Bystersky, M. ; Cadman, R.V. ; Cai, X.Z. ; Caines, H. ; Calder'On de La Barca S'Anchez, M. ; Castillo, J. ; Catu, O. ; Cebra, D. ; Chajecki, Z. ; Chaloupka, P. ; Chattopadhyay, S. ; Chen, H.F. ; Chen, J.H. ; Cheng, J. ; Cherney, M. ; Chikanian, A. ; Christie, W. ; Coffin, J.P. ; Cormier, T.M. ; Cosentino, M.R. ; Cramer, J.G. ; Crawford, H.J. ; Das, D. ; Das, S. ; Daugherity, M. ; de Moura, M.M. ; Dedovich, T.G. ; Dephillips, M. ; Derevschikov, A.A. ; Didenko, L. ; Dietel, T. ; Djawotho, P. ; Dogra, S.M. ; Dong, W.J. ; Dong, X. ; Draper, J.E. ; Du, F. ; Dunin, V.B. ; Dunlop, J.C. ; Dutta Mazumdar, M.R. ; Eckardt, V. ; Edwards, W.R. ; Efimov, L.G. ; Emelianov, V. ; Engelage, J. ; Eppley, G. ; Erazmus, B. ; Estienne, Magali ; Fachini, P. ; Fatemi, R. ; Fedorisin, J. ; Filimonov, K. ; Filip, P. ; Finch, E. ; Fine, V. ; Fisyak, Y. ; Fu, J. ; Gagliardi, C.A. ; Gaillard, L. ; Ganti, M.S. ; Ghazikhanian, V. ; Ghosh, P. ; Gonzalez, J.E. ; Gorbunov, Y.G. ; Gos, H. ; Grebenyuk, O. ; Grosnick, D. ; Guertin, S.M.

Physical review. C, 2007, Vol.76 [Periódico revisado por pares]

American Physical Society

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