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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution

Hossain, Muhammad Monir ; Azar, Kimia Zamiri ; Rahman, Fahim ; Farahmandi, Farimah ; Tehranipoor, Mark M.

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.7-16

IEEE

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2
The Republican Radical Who Helped Launch the Gay Rights Movement
The Republican Radical Who Helped Launch the Gay Rights Movement
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The Republican Radical Who Helped Launch the Gay Rights Movement

Neil, Young J

Reason, 2024-08, Vol.56 (4), p.54-60

Los Angeles: Reason Foundation

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3
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
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The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management

Rajski, Janusz ; Chickermane, Vivek ; Cote, Jean-Francois ; Eggersglus, Stephan ; Mukherjee, Nilanjan ; Tyszer, Jerzy

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.35-49

IEEE

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4
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
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SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior

de Melo, Caio Batista ; Ashrafiamiri, Marzieh ; Seo, Minjun ; Kurdahi, Fadi ; Dutt, Nikil

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.17-25

Piscataway: IEEE

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5
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
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Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions

Rahman, Mridha Md Mashahedur ; Tarek, Shams ; Azar, Kimia Zamiri ; Tehranipoor, Mark M. ; Farahmandi, Farimah

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.26-34

IEEE

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6
Product Health Insights Using Telemetry
Product Health Insights Using Telemetry
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Product Health Insights Using Telemetry

Su, Fei ; Kwasnick, Robert ; Holm, John ; Penner, William ; Gartler, Hermann ; Boelter, Josh ; Zhou, Yufei ; Arbab, Bijan ; Rothberg, Michael

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.56-64

Piscataway: IEEE

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7
Special Issue on Silicon Lifecycle Management
Special Issue on Silicon Lifecycle Management
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Special Issue on Silicon Lifecycle Management

Tahoori, Mehdi ; Zorian, Yervant

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.5-6

IEEE

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8
Silicon Lifecycle Management
Silicon Lifecycle Management
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Silicon Lifecycle Management

Pande, Partha Pratim

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.4-4

IEEE

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9
Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks
Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks
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Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks

Jeon, Kang Eun ; She, James

IEEE transactions on mobile computing, 2024-08, Vol.23 (8), p.8386-8397 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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IC Phone Home
IC Phone Home
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IC Phone Home

Davidson, Scott

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.70-70

IEEE

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