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Advancements in Automation, Robotics and Sensing
Advancements in Automation, Robotics and Sensing
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Advancements in Automation, Robotics and Sensing

Vinod J. Joe Brislin; K. S Sujatha; M Sundaram; Prahlad Vadakkepat; Richard Voyles

Springer Singapore 2016

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2
Atomic-scale imaging of individual dopant atoms and clusters in highly n -type bulk Si
Atomic-scale imaging of individual dopant atoms and clusters in highly n -type bulk Si
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Atomic-scale imaging of individual dopant atoms and clusters in highly n -type bulk Si

Muller, D. A ; Voyles, P. M ; Grazul, J. L ; Citrin, P. H ; Gossmann, H.-J. L

Nature (London), 2002-04, Vol.416 (6883), p.826-829 [Periódico revisado por pares]

London: Nature Publishing

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Thermal Resistance of Transferred-Silicon-Nanomembrane Interfaces
Thermal Resistance of Transferred-Silicon-Nanomembrane Interfaces
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Thermal Resistance of Transferred-Silicon-Nanomembrane Interfaces

Schroeder, D P ; Aksamija, Z ; Rath, A ; Voyles, P M ; Lagally, M G ; Eriksson, M A

Physical review letters, 2015-12, Vol.115 (25), p.256101-256101, Article 256101 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

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4
Local chemical and topological order in Al–Tb and its role in controlling nanocrystal formation
Local chemical and topological order in Al–Tb and its role in controlling nanocrystal formation
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Local chemical and topological order in Al–Tb and its role in controlling nanocrystal formation

Kalay, Y.E. ; Kalay, I. ; Hwang, Jinwoo ; Voyles, P.M. ; Kramer, M.J.

Acta materialia, 2012-02, Vol.60 (3), p.994-1003 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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Imaging individual atoms inside crystals with ADF-STEM
Imaging individual atoms inside crystals with ADF-STEM
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Imaging individual atoms inside crystals with ADF-STEM

Voyles, P.M. ; Grazul, J.L. ; Muller, D.A.

Ultramicroscopy, 2003-09, Vol.96 (3), p.251-273 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Fluctuation microscopy in the STEM
Fluctuation microscopy in the STEM
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Fluctuation microscopy in the STEM

Voyles, P.M. ; Muller, D.A.

Ultramicroscopy, 2002-11, Vol.93 (2), p.147-159 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Reactive sputtering of (Co,Fe) nitride thin films on TiN-bufferd Si
Reactive sputtering of (Co,Fe) nitride thin films on TiN-bufferd Si
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Reactive sputtering of (Co,Fe) nitride thin films on TiN-bufferd Si

Xiang, H. ; Shi, F.-Y. ; Rzchowski, M. S. ; Voyles, P. M. ; Chang, Y. A.

Applied physics. A, Materials science & processing, 2013-02, Vol.110 (2), p.487-492 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer-Verlag

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Nanoscale grains, high irreversibility field and large critical current density as a function of high-energy ball milling time in C-doped magnesium diboride
Nanoscale grains, high irreversibility field and large critical current density as a function of high-energy ball milling time in C-doped magnesium diboride
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nanoscale grains, high irreversibility field and large critical current density as a function of high-energy ball milling time in C-doped magnesium diboride

Senkowicz, B J ; Mungall, R J ; Zhu, Y ; Jiang, J ; Voyles, P M ; Hellstrom, E E ; Larbalestier, D C

Superconductor science & technology, 2008-03, Vol.21 (3), p.035009-035009 (10) [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Nanoscale structure and structural relaxation in Zr50Cu45Al5 bulk metallic glass
Nanoscale structure and structural relaxation in Zr50Cu45Al5 bulk metallic glass
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nanoscale structure and structural relaxation in Zr50Cu45Al5 bulk metallic glass

Hwang, Jinwoo ; Melgarejo, Z H ; Kalay, Y E ; Kalay, I ; Kramer, M J ; Stone, D S ; Voyles, P M

Physical review letters, 2012-05, Vol.108 (19), p.195505-195505 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

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Variable Resolution Fluctuation Electron Microscopy on Cu-Zr Metallic Glass Using a Wide Range of Coherent STEM Probe Size
Variable Resolution Fluctuation Electron Microscopy on Cu-Zr Metallic Glass Using a Wide Range of Coherent STEM Probe Size
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Variable Resolution Fluctuation Electron Microscopy on Cu-Zr Metallic Glass Using a Wide Range of Coherent STEM Probe Size

Hwang, Jinwoo ; Voyles, P.M.

Microscopy and microanalysis, 2011-02, Vol.17 (1), p.67-74 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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Deste Autor:

  1. Sundaram, M
  2. Voyles, R
  3. Sujatha, K
  4. Vadakkepat, P
  5. Vinod

Neste Assunto:

  1. Science & Technology
  2. Technology
  3. Physical Sciences
  4. Physics
  5. Materials Science

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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