skip to main content
Idioma:
Primo Advanced Search
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search prefilters
Busca Simples
Refinado por: tipo de recurso: Artigos remover Diffusion and Defect Data remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Low-Frequency Noise Spectroscopy of Bulk and Border Traps in Nanoscale Devices
Low-Frequency Noise Spectroscopy of Bulk and Border Traps in Nanoscale Devices
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Low-Frequency Noise Spectroscopy of Bulk and Border Traps in Nanoscale Devices

Cretu, Bogdan ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor ; Carin, Regis ; Aoulaiche, Marc ; Routoure, Jean Marc ; Zhao, Chao ; Fang, Wen ; Luo, Jun

Solid state phenomena, 2016, Vol.242, p.449-458 [Periódico revisado por pares]

Zurich: Trans Tech Publications Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Saxs measurements on aerogel
Saxs measurements on aerogel
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Saxs measurements on aerogel

Michel André Aegerter D. I Santos; A. F Craievich; T Lours; J Zarzycki; International Conference the Effects of Modes of Formation on the Structure of Glass (2. 1987 Nashville)

Diffusion and Defect Data Uetikon-Zurich : Scitec v. 53-54, p. 427-432, 1987

Uetikon-Zurich Scitec 1987

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD000157 )(Acessar)

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.