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Compatibility and Testing of Electronic Components
Compatibility and Testing of Electronic Components
Compatibility and Testing of Electronic Components
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Compatibility and Testing of Electronic Components

C. E. Jowett

Butterworth-Heinemann 1972

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
1993 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, November 7-11, 1993, Santa Clara, California digest of technical papers CAD-93
1993 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, November 7-11, 1993, Santa Clara, California digest of technical papers CAD-93
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

1993 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, November 7-11, 1993, Santa Clara, California digest of technical papers CAD-93

IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (1993 Santa Clara, Calif.) IEEE Circuits and Systems Society; IEEE Computer Society; ACM Special Interest Group on Design Automation; IEEE Electron Devices Society

Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1993

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (004.896 Ie2c 1993 )(Acessar)

3
Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop : July 3-5, 2000, Palma De Mallorca, Spain
Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop : July 3-5, 2000, Palma De Mallorca, Spain
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop : July 3-5, 2000, Palma De Mallorca, Spain

IEEE International On-Line Testing Workshop (6th 2000 Palma de Mallorca, Spain) IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology

Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society c2000

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (621.38.04 Ie2o 6. )(Acessar)

4
In-Circuit Testing
In-Circuit Testing
In-Circuit Testing
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

In-Circuit Testing

Bateson

Springer Netherlands 1985

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5
On-Line Testing Workshop proceedings : Seventh International On-Line Testing Workshop : 9-11 July, 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy
On-Line Testing Workshop proceedings : Seventh International On-Line Testing Workshop : 9-11 July, 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

On-Line Testing Workshop proceedings : Seventh International On-Line Testing Workshop : 9-11 July, 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy

IEEE International On-Line Testing Workshop (7th 2001 Taormina, Italy) IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology

Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society c2001

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

6
Logic testing and design for testability
Logic testing and design for testability
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara

Cambridge, Mass. MIT Press c1985

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (004.312 F955L )(Acessar)

7
Electronic testing and fault diagnosis
Electronic testing and fault diagnosis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Electronic testing and fault diagnosis

George Loveday

Harlow Longman Scientific & Technical c1995

Localização: IEE - Inst. de Energia e Ambiente    (621.38.04 L897e 3.ed. )(Acessar)

8
Design to test a definitive guide for electronic design, manufacture, and service
Design to test a definitive guide for electronic design, manufacture, and service
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Design to test a definitive guide for electronic design, manufacture, and service

Jon L. Turino

New York, N.Y. Van Nostrand Reinhold c1990

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (621.3.049.771 T846d2 )(Acessar)

9
Selected reprints on logic design for testability
Selected reprints on logic design for testability
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Selected reprints on logic design for testability

Constantin C Timoc

Silver Spring, MD IEEE Computer Society Press Los Angeles, CA Order from IEEE Computer Society c1984

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (004.312 T486s )(Acessar)

10
ICMTS 1989 proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh, Scotland, 13-14th March 1989
ICMTS 1989 proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh, Scotland, 13-14th March 1989
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

ICMTS 1989 proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh, Scotland, 13-14th March 1989

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1989 Edinburgh, Scotland) IEEE Electron Devices Society; Institution of Electrical Engineers

New York, NY IEEE c1989

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