Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
---|---|---|---|
1 |
Material Type: Revista
|
![]() |
Ieee Transactions on ReliabilityUNITED STATES IEEEAcesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
2 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
A importância da completeza na especificação de sistemas de segurançaJoão Batista Camargo Júnior 1958- Jorge Rady de Almeida Junior 1959-; Congresso Nacional de Automação (7. 1996 São Paulo)anais São Paulo : CONAI, 1996São Paulo CONAI 1996Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
3 |
Material Type: Relatório Técnico
|
![]() |
Importância da completeza na especificação de sistemas de segurançaJoão Batista Camargo Júnior 1958- Benício José de Souza 1946-São Paulo Epusp 1996Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
4 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
Principais aspectos da segurança em sistemas utilizados em áreas críticasJorge Rady de Almeida Junior 1959- João Batista Camargo Júnior 1958-; Congresso Nacional de Automação (7. 1996 São Paulo)anais São Paulo : CONAI, 1996São Paulo CONAI 1996Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
5 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
Um modelo de evaluación de confiabilidad de sistemas un abordaje basado en la teoria borrosaPaulo Sérgio Cugnasca 1965- Marco Túlio Carvalho de Andrade 1959-; João Batista Camargo Júnior 1958-; Instrumentation and Control Systems (5. 2000 Caracas); Pan-American Automation Symposium (4. 2000 Caracas)Trabajos Caracas : Fundación MECA, 2000Caracas Fundación MECA 2000Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
6 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
A fuzzy based approach for the design and evaluation of dependable systems using the Markov modelPaulo Sérgio Cugnasca 1965- Marco Túlio Carvalho de Andrade 1959-; João Batista Camargo Júnior 1958-; Pacific RIM International Symposium on Dependable Computing (1999 Hong Kong)Proceedings Los Alamitos : IEEE, 1999Los Alamitos IEEE 1999Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
7 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
Avaliacao eficiente de cut-sets para calculos de confiabilidadeFrancisco José de Oliveira Dias L A X Vale; Conferencia Internacional sobre Aplicacao Industrial de Eletricidade (1992 São Paulo)Induscon 92: Contribuicoes Tecnicas São Paulo : Ieee, 1992São Paulo Ieee 1992Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
8 |
Material Type: Relatório Técnico
|
![]() |
Simulador para avaliacao da confiabilidade de sistemas redundantes com reparoA L Braga Francisco José de Oliveira DiasSao Paulo Epusp 1995Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
9 |
Material Type: Revista
|
![]() |
Reliability Engineering & System SafetyENGLAND ElsevierAcesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
10 |
Material Type: Artigo de Congresso
|
![]() |
Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutoresFrancisco Javier Ramírez Fernandez 1944- Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais (9. 1990 Aguas de São Pedro, SP)Anais São Paulo : Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990São Paulo Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar 1990Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |