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1	Material Type: Artigo		Effect of a niobium-doped PZT interfacial layer thickness on the properties of epitaxial PMN-PT thin films Boota, M. ; Houwman, E. P. ; Lanzara, G. ; Rijnders, G. Journal of applied physics, 2023-04, Vol.133 (14) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Optimized fabrication of high-quality La0.67Sr0.33MnO3 thin films considering all essential characteristics Boschker, H ; Huijben, M ; Vailionis, A ; Verbeeck, J ; van Aert, S ; Luysberg, M ; Bals, S ; van Tendeloo, G ; Houwman, E P ; Koster, G ; Blank, D H A ; Rijnders, G Journal of physics. D, Applied physics, 2011-05, Vol.44 (20), p.205001 [Periódico revisado por pares] IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Interfacial dielectric layer as an origin of polarization fatigue in ferroelectric capacitors Do, M T ; Gauquelin, N ; Nguyen, M D ; Wang, J ; Verbeeck, J ; Blom, F ; Koster, G ; Houwman, E P ; Rijnders, G Scientific reports, 2020-04, Vol.10 (1), p.7310-7310, Article 7310 [Periódico revisado por pares] England: Nature Publishing Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		The significance of the piezoelectric coefficient d31,eff determined from cantilever structures Dekkers, M ; Boschker, H ; van Zalk, M ; Nguyen, M ; Nazeer, H ; Houwman, E ; Rijnders, G Journal of micromechanics and microengineering, 2013-02, Vol.23 (2) [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Enhanced piezoelectric properties of (110)-oriented PbZr1−xTixO3 epitaxial thin films on silicon substrates at shifted morphotropic phase boundary Houwman, E P ; Steenwelle, R ; van Schaijk R ; Rijnders, G Applied physics letters, 2014-03, Vol.104 (9) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Epitaxial Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 (67/33) thin films with large tunable self-bias field controlled by a PbZr1−xTixO3 interfacial layer Boota, M. ; Houwman, E. P. ; Dekkers, M. ; Nguyen, M. ; Rijnders, G. Applied physics letters, 2014-05, Vol.104 (18) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Preventing the Reconstruction of the Polar Discontinuity at Oxide Heterointerfaces Boschker, H. ; Verbeeck, J. ; Egoavil, R. ; Bals, S. ; van Tendeloo, G. ; Huijben, M. ; Houwman, E. P. ; Koster, G. ; Blank, D. H. A. ; Rijnders, G. Advanced functional materials, 2012-06, Vol.22 (11), p.2235-2240 [Periódico revisado por pares] Weinheim: WILEY-VCH Verlag Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Process dependence of the piezoelectric response of membrane actuators based on Pb(Zr0.45Ti0.55)O3 thin films Nguyen, C.T.Q. ; Nguyen, M.D. ; Dekkers, M. ; Houwman, E. ; Vu, H.N. ; Rijnders, G. Thin solid films, 2014-04, Vol.556, p.509-514 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Interface degradation and field screening mechanism behind bipolar-cycling fatigue in ferroelectric capacitors Do, M. T. ; Gauquelin, N. ; Nguyen, M. D. ; Blom, F. ; Verbeeck, J. ; Koster, G. ; Houwman, E. P. ; Rijnders, G. APL materials, 2021-02, Vol.9 (2), p.021113-021113-7 [Periódico revisado por pares] AIP Publishing LLC Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Magnetization reversal mechanism in La0.67Sr0.33MnO3 thin films on NdGaO3 substrates Mathews, M. ; Houwman, E. P. ; Boschker, H. ; Rijnders, G. ; Blank, D. H. A. Journal of applied physics, 2010-01, Vol.107 (1) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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