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1
The weibull-negative-binomial model under latent failure causes with randomized activation schemes
The weibull-negative-binomial model under latent failure causes with randomized activation schemes
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

The weibull-negative-binomial model under latent failure causes with randomized activation schemes

Bao Yiqi Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada

São Carlos ICMC-USP 2011

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (RT SME n. 371 Y52wn e.1 ) e outros locais(Acessar)

2
Estimação e diagnóstico na disribuição Weibull-Binomial-Negativa em análise de sobrevivência
Estimação e diagnóstico na disribuição Weibull-Binomial-Negativa em análise de sobrevivência
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimação e diagnóstico na disribuição Weibull-Binomial-Negativa em análise de sobrevivência

Yiqi, Bao

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2012-05-28

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

3
The log-Weibull-negative-binomial regression model under latent failure causes and presence of randomized activation schemes
The log-Weibull-negative-binomial regression model under latent failure causes and presence of randomized activation schemes
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The log-Weibull-negative-binomial regression model under latent failure causes and presence of randomized activation schemes

Francisco Louzada Vicente Garibay Cancho; Bao Yiqi

Statistics Philadelphia : Taylor and Francis v. 49, n. 4, 930-949, Ago. 2015

Philadelphia 2015

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2711951 )(Acessar)

4
On the Bayesian estimation and influence diagnostics for the Weibull-Negative-Binomial regression model with cure rate under latent failure causes
On the Bayesian estimation and influence diagnostics for the Weibull-Negative-Binomial regression model with cure rate under latent failure causes
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On the Bayesian estimation and influence diagnostics for the Weibull-Negative-Binomial regression model with cure rate under latent failure causes

Bao Yiqi Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada

Communications in Statistics - Theory and Methods London : Taylor and Francis Group, LLC v. 46, n. 3, p. 1462-1489, 2017

London 2017

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2755354 )(Acessar)

5
The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme

Vicente Garibay Cancho Dipankar Bandyopadhyay; Francisco Louzada; Bao Yiqi

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 13, p. 48-68, jul 2013

Amsterdam 2013

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2391793 )(Acessar)

6
Bayesian approach of the exponential poisson logarithmic model
Bayesian approach of the exponential poisson logarithmic model
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Bayesian approach of the exponential poisson logarithmic model

José Augusto Fioruci Bao Yiqi; Francisco Louzada; Vicente Garibay Cancho

Polpo, Adriano ; Louzada, Francisco ; Rifo, Laura L. R. ; Stern, Julio M. ; Lauretto, Marcelo , eds Interdisciplinary Bayesian Statistics: EBEB 2014 Cham : Springer, 2015 370 p.

Cham Springer 2015

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2805316 )(Acessar)

7
The exponential Poisson logarithmic distribution
The exponential Poisson logarithmic distribution
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The exponential Poisson logarithmic distribution

José Augusto Fioruci Bao Yiqi; Francisco Louzada; Vicente Garibay Cancho

Communications in Statistics - Theory and Methods London : Taylor and Francis Group, LLC v. 45, n. 9, p. 2556-2575, 2016

London 2016

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2755214 )(Acessar)

8
Influence diagnostics for the Weibull-Negative- Binomial regression model with cure rate under latent failure causes
Influence diagnostics for the Weibull-Negative- Binomial regression model with cure rate under latent failure causes
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence diagnostics for the Weibull-Negative- Binomial regression model with cure rate under latent failure causes

Bao Yiqi Cibele Maria Russo; Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada

Journal of Applied Statistics London : Taylor and Francis v. 43, n. 6, p. 1027-1060, 2016

London 2016

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2753713 )(Acessar)

9
Cure rate proportional odds models with spatial frailties for interval-censored data
Cure rate proportional odds models with spatial frailties for interval-censored data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Cure rate proportional odds models with spatial frailties for interval-censored data

B. Yiqi (Bao Yiqi) Vicente Garibay Cancho; Francisco Louzada; Adriano Kamimura Suzuki

Communications for Statistical Applications and Methods Seoul, Korea : Korean Statistical Society (KSS), and Korean International Statistical Society v. 24, n. 6, p. 605-625, 2017

Seoul, Korea 2017

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2870094 )(Acessar)

10
Power series cure rate model for spatially correlated interval-censored data based on generalized extreme value distribution
Power series cure rate model for spatially correlated interval-censored data based on generalized extreme value distribution
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Power series cure rate model for spatially correlated interval-censored data based on generalized extreme value distribution

Bao Yiqi Vicente Garibay Cancho; Dipak Kumar Dey; Narayanaswamy Balakrishnan; Adriano Kamimura Suzuki

Journal of Computational and Applied Mathematics Amsterdam : Elsevier v. 364, p. 1-15, 2020

Amsterdam 2020

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-2956468 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Yiqi, B
  2. Cancho, V
  3. Louzada, F
  4. Dey, D
  5. Suzuki, A

Neste Assunto:

  1. Inferência Bayesiana
  2. Estatística Aplicada
  3. Inferência Estatística
  4. Estatística
  5. Análise De Sobrevivência

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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