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1
Long-term fluctuations associated with different standards
Long-term fluctuations associated with different standards
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Long-term fluctuations associated with different standards

Valdes, J. ; Porfiri, M.E. ; Lobbe, E.E. ; Kornblit, F. ; Passarino de Marques, M.N. ; Leiblich, J.A.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 1993-04, Vol.42 (2), p.269-272 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Fabrication of high-aspect-ratio microstructures on planar and nonplanar surfaces using a modified LIGA process
Fabrication of high-aspect-ratio microstructures on planar and nonplanar surfaces using a modified LIGA process
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Fabrication of high-aspect-ratio microstructures on planar and nonplanar surfaces using a modified LIGA process

Marques, C. ; Desta, Y.M. ; Rogers, J. ; Murphy, M.C. ; Kelly, K.

Journal of microelectromechanical systems, 1997-12, Vol.6 (4), p.329-336 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Study of large area avalanche photodiode for detecting liquid xenon scintillation
Study of large area avalanche photodiode for detecting liquid xenon scintillation
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Study of large area avalanche photodiode for detecting liquid xenon scintillation

Solovov, V.N. ; Chepel, V. ; Lopes, M.I. ; Marques, R.F. ; Policarpo, A.J.P.L.

1999 IEEE Nuclear Science Symposium. Conference Record. 1999 Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (Cat. No.99CH37019), 1999, Vol.2, p.718-721 vol.2

IEEE

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4
Study of scintillation light from microstructure based detectors
Study of scintillation light from microstructure based detectors
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Study of scintillation light from microstructure based detectors

Fraga, M.M. ; Fetal, S.T.G. ; Fraga, F.A.F. ; Antunes, E. ; Goncalves, J. ; Bueno, C.C. ; Marques, R.F. ; Policarpo, A.J.P.L.

1999 IEEE Nuclear Science Symposium. Conference Record. 1999 Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (Cat. No.99CH37019), 1999, Vol.2, p.654-659 vol.2

IEEE

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5
BUA osteoporosis diagnostic with single position vs scanning systems: a comparative study
BUA osteoporosis diagnostic with single position vs scanning systems: a comparative study
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BUA osteoporosis diagnostic with single position vs scanning systems: a comparative study

Maia, J.M. ; Costa, E.T. ; da Silveira Nantes Button, V.L. ; Neto, J.F.M.

2002 IEEE Ultrasonics Symposium, 2002. Proceedings, 2002, Vol.2, p.1289-1292 vol.2

IEEE

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6
Atomistic modeling of B activation and deactivation for ultra-shallow junction formation
Atomistic modeling of B activation and deactivation for ultra-shallow junction formation
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Atomistic modeling of B activation and deactivation for ultra-shallow junction formation

Aboy, M. ; Pelaz, L. ; Marques, L.A. ; Barbolla, J. ; Mokhberi, A. ; Takamura, Y. ; Griffin, P.B. ; Plummer, J.D.

International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2003. SISPAD 2003, 2003, p.151-154

IEEE

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7
Analysis and potentialities of backside-illuminated thinned CMOS imagers
Analysis and potentialities of backside-illuminated thinned CMOS imagers
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Analysis and potentialities of backside-illuminated thinned CMOS imagers

Marques Vatus, Cecilia ; Magnan, Pierre

SPIE proceedings series, 2004, Vol.5251, p.178-186

Bellingham WA: SPIE

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8
Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions
Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions
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Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions

Aboy, M. ; Pelaz, L. ; Marques, L.A. ; Lopez, P. ; Santos, I. ; Barbolla, J. ; Duffy, R.

Conference on Electron Devices, 2005 Spanish, 2005, p.451-454

IEEE

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9
Split rings resonators: key particles for microwave device design
Split rings resonators: key particles for microwave device design
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Split rings resonators: key particles for microwave device design

Bonache, J. ; Gil, I. ; Garcia-Garcia, J. ; Falcone, F. ; Lopetegi, T. ; Laso, M.A.G. ; Baena, J.D. ; Martin, F. ; Sorolla, M. ; Marques, R.

Conference on Electron Devices, 2005 Spanish, 2005, p.135-138

IEEE

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10
Atomistic analysis of annealing behavior of amorphous regions
Atomistic analysis of annealing behavior of amorphous regions
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Atomistic analysis of annealing behavior of amorphous regions

Lopez, P. ; Pelaz, L. ; Marques, L.A. ; Santos, I. ; Aboy, M. ; Barbolla, J.

Conference on Electron Devices, 2005 Spanish, 2005, p.427-430

IEEE

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