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Análise estrutural e morfológica por raios X
Análise estrutural e morfológica por raios X
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise estrutural e morfológica por raios X

Márcia Carvalho de Abreu Fantini Escola Brasileira de Magnetismo (1. 1998 São Paulo)

Escola Brasileira de Magnetismo, 1 São Paulo : Ifusp, 1998

São Paulo Ifusp 1998

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2
X-ray tools to analyze nanostructures
X-ray tools to analyze nanostructures
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray tools to analyze nanostructures

Márcia Carvalho de Abreu Fantini Encontro da SBPMat (3. 2004 Foz do Iguaçu)

Program São Carlos: SBPMat, 2004

São Carlos SBPMat 2004

Acesso online

3
Sistemas porosos de zircônia e céria
Sistemas porosos de zircônia e céria
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Sistemas porosos de zircônia e céria

Bacani, Rebeca

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2009-12-16

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

4
Aplicabilidade de sílica mesoporosa ordenada como adjuvante imunológico
Aplicabilidade de sílica mesoporosa ordenada como adjuvante imunológico
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Aplicabilidade de sílica mesoporosa ordenada como adjuvante imunológico

Mariano Neto, Francisco

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2008-09-26

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

5
Metodologia de Análise Estrutural de Super-Redes Cristalinas
Metodologia de Análise Estrutural de Super-Redes Cristalinas
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Metodologia de Análise Estrutural de Super-Redes Cristalinas

Palacios, Hector Trinidad

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 1997-04-29

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6
Eletrocromismo em filmes finos compósitos
Eletrocromismo em filmes finos compósitos
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Eletrocromismo em filmes finos compósitos

Ferreira, Fabio Furlan

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2003-02-07

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

7
Caracterização de super-redes semicondutoras amorfas por difração de raios x.
Caracterização de super-redes semicondutoras amorfas por difração de raios x.
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização de super-redes semicondutoras amorfas por difração de raios x.

Velasquez, Elvira Leticia Zeballos

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 1995-07-05

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8
Estudo das propriedades químicas, morfológicas e estruturais de oxinitreto de silício depositado por PECVD
Estudo das propriedades químicas, morfológicas e estruturais de oxinitreto de silício depositado por PECVD
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo das propriedades químicas, morfológicas e estruturais de oxinitreto de silício depositado por PECVD

Scopel, Wanderlã Luis

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2002-08-12

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9
Propriedades químicas e morfológicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo.
Propriedades químicas e morfológicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Propriedades químicas e morfológicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo.

Prado, Rogério Junqueira

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 1997-04-22

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10
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos

Manuel Alfredo Espinoza Sanchez Márcia Carvalho de Abreu Fantini

2000

Localização: IF - Instituto de Física    (548.83 E77m M Ex.2 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Fantini, M
  2. Pereyra, I
  3. Matos, J
  4. Silva, L
  5. Lamas, D

Neste Assunto:

  1. Matéria Condensada
  2. Filmes Finos
  3. Difração Por Raios X
  4. Materiais
  5. Science & Technology

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