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1
Setting up meshes of interferometers – reversed local light interference method
Setting up meshes of interferometers – reversed local light interference method
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Setting up meshes of interferometers – reversed local light interference method

Miller, David A. B.

Optics express, 2017-11, Vol.25 (23), p.29233 [Periódico revisado por pares]

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2
History of the principle of interference of light
History of the principle of interference of light
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

History of the principle of interference of light

Naum S Kipnis

Basel Birkhäuser Verlag Boston c1991

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (535.09 K57h )(Acessar)

3
Quantifying myelin content in brain tissue using color Spatial Light Interference Microscopy (cSLIM)
Quantifying myelin content in brain tissue using color Spatial Light Interference Microscopy (cSLIM)
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Quantifying myelin content in brain tissue using color Spatial Light Interference Microscopy (cSLIM)

Fanous, Michael ; Caputo, Megan P ; Lee, Young Jae ; Rund, Laurie A ; Best-Popescu, Catherine ; Kandel, Mikhail E ; Johnson, Rodney W ; Das, Tapas ; Kuchan, Matthew J ; Popescu, Gabriel Garini, Yuval

PloS one, 2020-11, Vol.15 (11), p.e0241084-e0241084 [Periódico revisado por pares]

United States: Public Library of Science

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4
Wave optics interference and diffraction
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Wave optics interference and diffraction

Colin Curry

London Arnold 1957

Localização: IAG - Inst. Ast. Geo. Ciên. Atmosféricas    (535.41 Cur W ) e outros locais(Acessar)

5
Optical interference coatings
Optical interference coatings
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical interference coatings

Norbert Kaiser 1951; H. K Pulker 1933 (Hans K.)

Berlin Springer New York c2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (535 S769 v.88 )(Acessar)

6
Imaging Slit Pores Under Delaminated Splats by White Light Interference
Imaging Slit Pores Under Delaminated Splats by White Light Interference
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Imaging Slit Pores Under Delaminated Splats by White Light Interference

Chen, Lin ; Gao, Li-li ; Yang, Guan-Jun

Journal of thermal spray technology, 2018-02, Vol.27 (3), p.319-335 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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7
Spatial light interference microscopy (SLIM)
Spatial light interference microscopy (SLIM)
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Spatial light interference microscopy (SLIM)

Wang, Zhuo ; Millet, Larry ; Mir, Mustafa ; Ding, Huafeng ; Unarunotai, Sakulsuk ; Rogers, John ; Gillette, Martha U ; Popescu, Gabriel

Optics express, 2011-01, Vol.19 (2), p.1016-1026 [Periódico revisado por pares]

United States: Optical Society of America

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8
Cardiomyocyte imaging using real-time spatial light interference microscopy (SLIM)
Cardiomyocyte imaging using real-time spatial light interference microscopy (SLIM)
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Cardiomyocyte imaging using real-time spatial light interference microscopy (SLIM)

Bhaduri, Basanta ; Wickland, David ; Wang, Ru ; Chan, Vincent ; Bashir, Rashid ; Popescu, Gabriel Metze, Konradin

PloS one, 2013-02, Vol.8 (2), p.e56930-e56930 [Periódico revisado por pares]

United States: Public Library of Science

Texto completo disponível

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9
Second-Order Temporal Interference with Thermal Light: Interference beyond the Coherence Time
Second-Order Temporal Interference with Thermal Light: Interference beyond the Coherence Time
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Second-Order Temporal Interference with Thermal Light: Interference beyond the Coherence Time

Ihn, Yong Sup ; Kim, Yosep ; Tamma, Vincenzo ; Kim, Yoon-Ho

Physical review letters, 2017-12, Vol.119 (26), p.263603-263603, Article 263603 [Periódico revisado por pares]

United States

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10
Application of imaging ellipsometry and white light interference microscopy for detection of defects in epitaxially grown 4H–SiC layers
Application of imaging ellipsometry and white light interference microscopy for detection of defects in epitaxially grown 4H–SiC layers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Application of imaging ellipsometry and white light interference microscopy for detection of defects in epitaxially grown 4H–SiC layers

Ermilova, Elena ; Weise, Matthias ; Hertwig, Andreas Segonds, Patricia ; Descrovi, Emiliano ; Pauliat, Gilles

Journal of the European Optical Society. Rapid publications, 2023, Vol.19 (1), p.23 [Periódico revisado por pares]

EDP Sciences

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