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1
Material Type:
Tese de Doutorado
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Descritores fractais aplicados à análise de texturas

Florindo, João Batista

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2013-02-26

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Material Type:
Artigo de Jornal
Adicionar ao Meu Espaço

Micro popular é fraco em recursos

Odemir Martinez Bruno João Batista Florindo; André Ricardo Backes

Folha de São Paulo. Informática São Paulo 14 fev. 2007. p. F8

São Paulo 2007

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1631676 ) e outros locais(Acessar)

3
Material Type:
Artigo de Congresso
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Análise de dados funcionais aplicada à extração de descritores de formas

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno; Workshop da Pós-Graduação do IFSC (12. 2008 São Carlos)

Caderno de Resumos São Carlos : Instituto de FísicadeSão Carlos - USP, 2008

São Carlos Instituto de Física de São Carlos - USP 2008

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD015556 ) e outros locais(Acessar)

4
Descritores fractais aplicados a análise de texturas
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Descritores fractais aplicados a análise de texturas

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno; Semana do Instituto de Física de São Carlos - SIFSC (2011 São Carlos)

Caderno de Resumos São Carlos : Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2011

São Carlos Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC 2011

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD018816 ) e outros locais(Acessar)

5
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Reconhecimento de padrões em imagens usando descritores fractais

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno; Workshop da Pós-Graduação em Física do IFSC (13. 2009 São Carlos)

Caderno de Resumos São Carlos : Instituto de Física de São Carlos - USP, 2009

São Carlos Instituto de Física de São Carlos - USP 2009

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD016711 ) e outros locais(Acessar)

6
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Descritores fractais aplicados à análise de imagens

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno; Workshop da Pós-Graduação do IFSC (14. 2010 São Carlos)

Livro de Resumos São Carlos : Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2010

São Carlos Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC 2010

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD017738 ) e outros locais(Acessar)

7
Descritores fractais aplicados à análise de texturas
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Descritores fractais aplicados à análise de texturas

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno; Semana do Instituto de Física de São Carlos - SIFSC (2. 2012 São Carlos)

Caderno de Resumos São Carlos : Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2012

São Carlos Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC 2012

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD020216 ) e outros locais(Acessar)

8
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Fractal descriptors in the Fourier domain applied to color texture analysis

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno

Chaos College Park : American Institute of Physics - AIP v. 21, n. 4, p. 043112-1-043112-10, Dec. 2011

College Park 2011

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD019107 )(Acessar)

9
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Fractal descriptors based on Fourier spectrum applied to texture analysis

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno

Physica A Amsterdam : Elsevier BV v. 391, n. 20, p. 4909-4922, Oct. 2012

Amsterdam 2012

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD019689 )(Acessar)

10
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Fractal descriptors based on the probability dimension a texture analysis and classification approach

João Batista Florindo Odemir Martinez Bruno

Pattern Recognition Letters Amsterdam : Elsevier BV v. 42, p. 107-114, June 2014

Amsterdam 2014

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD022106 )(Acessar)

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